Talint EDU是X射线Talbot Lau干涉仪的一种巧妙简化形式,包括所有必要的硬件,以正确设置和微调干涉仪,并应用相位步进程序,以获得三种成像模式:吸收、相位对比度和暗场对比度。
硬件的设计使得,在按照我们的说明组装(预装)套件后,莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微调可以通过使用G1和G2支架中的微米螺钉使光栅绕光轴进行角旋转,以直接的方式进行。
产地:德国
长度:60厘米
宽度:15厘米
高度:20厘米
光栅开放区域
G0:15毫米
G1:70毫米
G2:70毫米
干涉仪的微调:仅调整G1和G2绕光轴的旋转角度
样品放置:简单的旋转台,可在光轴内外摆动样品
相位步进:闭环压电级。30nm分辨率
边缘能见度:通常>15%
G0和G2的占空比:0.55
G0和G2的基板:400µm石墨
G1占空比:0.5
G1基板:200µm硅